Resistori

Suggerimenti e trucchi sui test a doppio impulso
Nelle società moderne, è necessaria una notevole quantità di energia elettrica per il funzionamento...

db o no db?
Vero o falso: 30 dBm + 30 dBm = 60 dBm? Perché l'1% funziona per essere -40 dB una volta ma poi 0,1...

Verifica a livello di sistema e debug di progetti di memoria DDR3/4
Questa nota dell'applicazione fornisce un'introduzione alla tecnologia di memoria DDR e spiega le sfide...

Alimentare le tue applicazioni FPGA
Gli array di gate programmabili sul campo (FPGA) hanno acquisito molta attenzione e applicazione diffusa...

Mantenere l'efficienza e la protezione del MOSFET SIC senza compromessi
I vantaggi di efficienza e dimensioni dei dispositivi SIC sono stati abbracciati con entusiasmo da progettisti...

Flash Corruption: bug del software o errori di tensione di alimentazione?
La memoria flash viene comunemente utilizzata per archiviare il firmware in sistemi integrati. Occasionalmente,...

Gestione termica per dispositivi a montaggio superficiale
Le origini della curva che deriscono l'ambiente risalgono a decenni quando i militari statunitensi hanno...

Considerazioni sulla misurazione dell'unità gate
Uno degli scopi principali di un driver di gate è quello di consentire agli interruttori di alimentazione...

Misurazione delle correnti invocate
Tutti i dispositivi elettronici contengono componenti capacitivi o induttivi che possono causare una...
Iscriviti a Electronic Pro Tech Publish Hub
Come abbonato riceverai avvisi e accesso gratuito alla nostra libreria costantemente aggiornata di white paper, report degli analisti, case study, seminari web e report sulle soluzioni.